ATP5020P：赋能二维材料光学研究，助力PdSe₂多功能光电器件突破
在现代光电集成器件中，如何在单一材料平台上实现光探测、光波导与光调制等多种功能，一直是科研与产业界关注的焦点。
近日，一项发表于《Nature Communications》 的重要研究《Multifunctional van der Waals PdSe₂ for light detection, guiding and modulation》中，奥谱天成ATP5020P光纤光谱仪为揭示PdSe₂的宽带光学特性提供了可靠的数据支撑。
研究背景：PdSe₂的多功能光学特性
PdSe₂作为一种具有正交晶系的层状范德华材料，在不同波长范围内展现出半导体、高折射率介质和类金属三种光学行为，使其成为理想的多功能光电集成平台。为了全面表征其各向异性光学常数，研究团队采用了偏振分辨反射谱测量技术，而其中核心的光谱采集设备正是ATP5020P光纤光谱仪。
在该研究中，研究人员搭建了一套分体式偏振分辨反射率测量系统，将显微镜、偏振器与ATP5020P光谱仪相结合，实现了在550–900 nm波长范围内对PdSe₂薄片在不同偏振方向下的反射率精确测量。
这些数据为后续提取PdSe₂沿不同晶轴的复折射率（n+ik）奠定了实验基础。
ATP5020P的技术优势体现：
高灵敏度与宽光谱范围：覆盖从可见到近红外波段，满足多维度光学表征需求。
模块化设计：可与显微镜、偏振器等光学部件灵活集成，适用于分体式或集成式光学系统。
偏振分辨能力：支持对各向异性材料（如PdSe₂）在不同晶轴方向的光学响应进行精确测量。
小光斑测量：结合高倍物镜，实现对微米级样品的局部光谱采集。
应用拓展：ATP5020P在光电材料研究中的潜力
除了在PdSe₂研究中的应用，ATP5020P光纤光谱仪还适用于：
二维材料光学常数提取（如MoS₂、WS₂、黑磷等）；
微区反射/透射光谱测量；
偏振分辨光谱分析；
光电探测器响应谱标定；
纳米光子器件性能评估；
参考文献
1. Slavich, A., Ermolaev, G., Pak, N. et al. Multifunctional van der Waals PdSe2 for light detection, guiding and modulation. Nat Commun 16, 9201 (2025).
结语
奥谱天成ATP5020P光纤光谱仪凭借其高精度、灵活集成与宽谱段覆盖的特点，已成为现代光电材料研究中不&可&或&缺的光学测量工具。
在PdSe₂等多功能范德华材料的研究中，它为我们理解材料本质、推动器件集成提供了坚实的数据基础。未来，我们将继续携手科研与产业伙伴，用先进的光谱技术，照亮光电集成的创新之路。
