GY8120是奥谱天成公司全新推出的全光谱透过率测量系统，这是一款数据精确，操作方便，性&价&比&超&高的新型设备。先进的光谱测量技术，可进行全光谱的透过率测量，具有快速、简易、准确等特性。能快速地检测手机面板及各类透明及半透明产品的透过率，适用于光学、化工等工业及科研领域!

采用优质的光谱仪进行光谱检测接收，内置匀光系统对透射光谱进行光束整形。检测光斑可调，更好的匹配的了不同尺寸样品的测试，面测量相对于单点测量具有更可靠的测量准确性。

直观友好的用户界面使得技术人员和非技术人员均可轻松完成操作；优质的硬件配置和耐用的多变量算法更进一步的确保了实验结果的准确性、一致性和可靠性。

特点

无损、快速检测，一键操作；

极宽的光谱测量范围：200nm-2500nm；

根据测量样品属性，提供多型号可选；

灵活搭配的透射测量方案；可测量整段光谱透射率。

采用高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好；

优异的波长重复性达0.1nm；

高信噪比，最小化杂散光；

信噪比最高可达≥1000：1；

测试时间短；

测量光斑可调，适用于不同尺寸样品；

测量精度高，检测误&差＜0.2%；

可用于实时在线检测。

典型应用

手机盖板IR孔

各种薄膜透光率测量

闪光灯孔透过率测量

镀膜镜、胶合镜、平行平板透过率测量

太阳膜、滤光片透光测量

聚光玻璃、毛玻璃、镜片

珠宝、涂层检测分析

镜头透过率测量