产品概述
ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪
产品概述
ATP5104是奥谱天成针对紫外光谱，特别研制的高性能紫外增强型微型光纤光谱仪，它采用3072像素的紫外增敏线性CCD，可以适应165-1100nm波长范围的测试，CCD检测器曝光时间可以控制在1ms之内，同时，奥谱天成为ATP5104特别定制了超低噪声CCD信号处理电路，其量化噪声小于3 counts，为业界*水平，可以帮助您可以获得*的光谱信噪比。
ATP5104是紫外、可见、近红外光谱应用的理想选择，有不同的狭缝、光栅、反射镜、滤光片可以选择，可以根据您的需求，配置适合不同应用场合的光谱仪，光谱范围从165nm起至1050nm，光谱分辨率可在0.5到4.0nm之间选择，奥谱天成也可为OEM客户提供定制选择。
ATP5104可以接收SMA905接口光纤输入或者自由空间输入的待测光，根据设定的积分时间进行测量，将测量结果通过USB2.0（高速）或者UART输出；
ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪
特点：
紫外增强高性能背照式CCD
专门针对紫外优化的光路和结构；
探测器：背照式CCD
探测器像素：3072
超低噪声CCD信号处理电路
光谱范围: 165-1100 nm
光谱分辨率: 0.1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)
光路结构：交叉C-T
积分时间：2ms-130s
供电电源：DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光输入接口：SMA905或自由空间
数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART
20针双排可编程外扩接口
ATP5104-紫外增强
典型应用：
拉曼光谱仪
微量、快速分光光度计；
光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析
透过率、吸光度检测；
反射率检测；
紫外、可见和短波近红外
波长检测
探测器 | |
类型 | 线阵背照式CCD |
探测光谱范围 | 165-1100 nm |
有效像素 | 3072 |
像元尺寸 | 600μm×8μm |
全量程范围 | ~200 ke- |
灵敏度 | 6.5 uV/e- |
暗噪声 | 6 e- |
光学参数 | |
波长范围 | 165-1100 nm |
光学分辨率 | 0.1-4 nm （取决于狭缝、光谱范围） |
性噪比 | >1000:1 |
动态范围 | 3000：1 |
工作温度 | -10-40 oC |
工作湿度 | < 85%RH |
光路参数 | |
光学设计 | f/4 交叉非对称C-T光路 |
焦距 | 40 mm for incidence / 60 mm for output |
入射狭缝宽度 | 5、10、25、50、100、150、200 μm 可选，其他尺寸可定制 |
入射光接口 | SMA905光纤接口、自由空间 |
电气参数 | |
积分时间 | 1 ms - 130 second |
数据输出接口 | USB 2.0 |
ADC位深 | 18 bit |
供电电源 | DC 5V±10% |
工作电流 | <2.3A |
存储温度 | -20°C to +70°C |
操作温度 | -10°C to +40°C |
物理参数 | |
尺寸 | 102×720×34 mm3 |
重量 | 0.3 kg |
Sealing | Anti-sweat |
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